Kiedy w latach 60-tych XX wieku firmy produkcyjne zintegrowały współrzędnościowe maszyny pomiarowe ze swoimi liniami produkcyjnymi, ich głównym zadaniem była kontrola wytwarzanych produktów w celu zapewnienia zgodności najważniejszych wymiarów ze specyfikacjami. Po trzydziestu latach pojawiły się technologie skanowania chmury punktów, które umożliwiły szybkie skanowanie i analizę obróbki, tworzenie prototypów części i zespołów pilotowych w celu skrócenia czasu wprowadzania na rynek podczas projektowania nowego produktu. Obecnie za sprawą udanej integracji analizy wymiarowej i kontroli jakości w jednym rozwiązaniu możesz wykorzystywać wspólną platformę pomiarową 3D do całego cyklu projektowania produktu i jego produkcji.
Biała księga
Gromadzenie wiarygodnych pomiarów 3D
Inteligentne podejście do metrologii 3D
Metrologowie wiedzą, że systemy pomiarowe nie są doskonałe. Dokonując analizy systemu pomiarowego (Measurement System Analysis — MSA), można wyznaczyć składniki zmienności w procesie pomiarowym i podjąć działania korygujące w celu zapewnienia, że nie stanowi ona więcej niż 30% pomierzonych odchyleń.
Artykuł
Rzeczywistość mieszana: Największy postęp w pomiarach 3D obiektów wielkogabarytowych od czasu wprowadzenia trackerów laserowych
Nowa technologia rzeczywistości mieszanej przekształca metrologię dużych obiektów, optymalizując korzyści trakerów laserowych i oferując te same zalety co projektory i urządzenia zdalnego sterowania, jednocześnie omijając ich ograniczenia. Grafiki naprowadzające i instrukcje pomiarowe nakładane na mierzony element to jedne spośród nowych, imponujących możliwości inteligentnych okularów pracujących w połączeniu z potężnym oprogramowaniem pomiarowym 3D, dzięki którym operatorzy zawsze mierzą właściwe cechy i otrzymują informacje zwrotne w czasie rzeczywistym.
Artykuł
Ustandaryzuj swoje operacje związane z pomiarami 3D za pomocą uniwersalnej platformy oprogramowania
W dzisiejszych czasach firmy produkcyjne mają do dyspozycji profesjonalne laboratoria pomiarowe 3D, wyposażone w przenośne oraz zautomatyzowane urządzenia CMM, skanery laserowe, trakery laserowe i cyfrowe mierniki. Niestety każdy producent sprzętu pomiarowego wykorzystuje do pomiaru własne oprogramowanie. Znacząco ogranicza to wydajność zespołów pomiarowych 3D, ponieważ metrolodzy muszą opanować wiele, czasami znacząco różnych, procedur postępowania. Zastępując te programy uniwersalną platformą oprogramowania, możemy zmniejszyć obciążenie zespołów pomiarowych pracą, a także znacząco podnieść wydajność procesów pomiarowych 3D.